시험품에 고온과 저온을 반복적으로 주어 내구성, 신뢰성, 불량률 등을 평가하기 위한 장비입니다.

전원: AC 280V 3PH

MODEL: TSA-71H-W

제조년: 2003년

무게: 1250kg

Made in Japan

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용도: 고온/저온 열 충격 시험 (thermal shock)으로, 전자부품, 반도체, 전장품 등 열 환경 변화가 제품에 미치는 영향을 평가함.

구조 및 특징: 시험실 내부의 시료가 움직이지 않는 "시료 정지형(static)" 방식이며 온도 회복성 (temperature recovery) 및 균일성, 높은 정밀도를 지향함.

온도범위: 약 -70 ~ +200℃

내부사이즈: 약 W410 x D460 x H370 mm

외부사이즈: 약 W1310 x D1370 x H1900 mm